晶振測(cè)試儀主要測(cè)試哪些參數(shù)？

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

采用微處理器技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了智能化測(cè)量，本系列儀器采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù)實(shí)現(xiàn)等精度測(cè)量。它測(cè)量精度高，靈敏度高，速度快，該機(jī)前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。

具有PPM測(cè)量功能，預(yù)置頻率F0可任意設(shè)置。該功能特別適合于晶體振動(dòng)器生產(chǎn)企業(yè)，測(cè)本測(cè)試儀采用高速CPLD邏輯芯片，測(cè)量結(jié)果更精準(zhǔn)！

二、晶振測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo)：

頻率測(cè)量范圍： 0.1Hz — 100MHz

頻率測(cè)量靈敏度：30mv

PPm測(cè)量：3KHz — 100MHz

PPm測(cè)量精度：≤1 PPm （1×10-6）

（可擴(kuò)展0.1PPm ， 0.01 PPm）

中心頻率：0 Hz — 100 MHz任意設(shè)定

誤差設(shè)置范圍設(shè)定：± 1 — ± 999 PPm任意設(shè)定。

閘門(mén)設(shè)置：四檔 ，0.01s、 0.1s、1s三檔固定，

1檔閘門(mén)1ms — 10s可設(shè)，

每1mS為一階梯任意設(shè)定。

周期測(cè)量范圍：100 ms — 10 s

晶振穩(wěn)定性：5 ×10-7 / 日